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德國(guó)OPTRIS歐普士 緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 28°x21°
德國(guó)OPTRIS歐普士 緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 28°x21°
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,擅長(zhǎng)對(duì)具有挑戰(zhàn)性的物體進(jìn)行非接觸熱成像。它能夠測(cè)量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度。憑借熱測(cè)量能力和電動(dòng)對(duì)焦功能,該熱像儀在工業(yè)環(huán)境中提供了可靠性和便利性,無(wú)需額外的硬件。它配備了以太網(wǎng)、USB 接口,以及模擬和數(shù)字過(guò)程接口,實(shí)現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和機(jī)械設(shè)備的無(wú)縫集成。
工業(yè)以太網(wǎng)短波紅外熱像儀
寬測(cè)量范圍從 450°C 到 1800°C,無(wú)需子范圍
尺寸小且堅(jiān)固,配備電動(dòng)對(duì)焦
高動(dòng)態(tài) CMOS 探測(cè)器,分辨率為 396 x 300 像素
運(yùn)行,帶自動(dòng)熱點(diǎn)查找和直接模擬或報(bào)警輸出,并具有多種現(xiàn)場(chǎng)總線通信選項(xiàng)
型號(hào) | Xi1M 7°x5° | Xi1M 14°x10° | Xi1M 28°x21° | Xi1M 7°x5° CF |
探測(cè)器 |
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光學(xué)分辨率 |
全分辨率:396×300 像素(以太網(wǎng)); 子幀模式:132×100 像素(USB,模式); 線掃描:396×8 像素(以太網(wǎng)); 線掃描:396×1 像素(以太網(wǎng),模式) |
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像素間距 | 15 μm | |||
探測(cè)器 | CMOS | |||
光譜范圍 | 高溫測(cè)量: 0.85 – 1.1 μm | |||
光學(xué)濾鏡 | 無(wú) | |||
幀率 | 20 Hz |
光學(xué) |
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視場(chǎng)角 | 7°x5° (396×300 像素) | 14°x10° (396×300 像素) | 28°x21° (396×300 像素) | 7°x5° CF (396×300 像素) |
焦距 [毫米] | 50 | 25 | 12 | 50 |
F值 | 2.8 | 1.8 | 2 | 2.8 |
光學(xué)分辨率 | 806:1 | 401:1 | 195:1 | 830:1 |
到目標(biāo)的*小距離 | 800 mm | 300 mm | 300 mm | 500 mm |
可更換光學(xué)器件 | No |
測(cè)量 |
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物體測(cè)量范圍 |
450 °C … 1800 °C (20Hz) 550 °C … 1800°C (500Hz) **1) |
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精度 |
物體溫度 < 1400 °C:讀數(shù)的 ±1% 物體溫度 < 1600 °C:讀數(shù)的 ±2% |
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熱靈敏度 (NETD) | < 2 K (小于900 °C時(shí)) / < 4 K (小于1400 °C時(shí)) | |||
*小可檢測(cè)點(diǎn)大小 IFOV: 1像素 | 0.3mm | 0.5mm | 0.7mm | 0.1mm |
*小可測(cè)量點(diǎn)大小 MFOV | 1.2mm | 2.5mm | 2.8mm | 0.4mm |
MFOV測(cè)量視場(chǎng) | 4×4 像素 | |||
預(yù)熱時(shí)間 | 10 分鐘 | |||
發(fā)射率/透過(guò)率/反射率 | 可調(diào):0.100…1.100 |
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠和高精度的性能,專門用于測(cè)量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計(jì)在短波紅外范圍內(nèi)工作(波長(zhǎng):0.85 – 1.1 μm),這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度分析而設(shè)計(jì)。為了滿足各行業(yè)的嚴(yán)格要求,Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測(cè)量范圍、*的準(zhǔn)確性和可定制的視場(chǎng)配置。
許多由非光亮材料組成的測(cè)量物體在長(zhǎng)波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對(duì)恒定的發(fā)射率,而這些材料在長(zhǎng)波紅外波段的低發(fā)射率會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的*發(fā)射率相匹配,從而簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程溫度測(cè)量。此外,根據(jù)普朗克輻射定律,在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加,因此線性發(fā)射率問(wèn)題對(duì)短波溫度測(cè)量結(jié)果的重復(fù)性影響較小。因此,在考慮到較高的溫度測(cè)量范圍時(shí),對(duì)高溫光亮材料的非接觸溫度測(cè)量應(yīng)盡可能使用短波段。
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